Language	Label	Description	Alias
English	Electron Microscope	ARIM instrument classification	-
Japanese	電子顕微鏡	先端RI(ARIM)装置分類	-

Language	English
Label	Electron Microscope
Description	ARIM instrument classification
Alias

Language	Japanese
Label	電子顕微鏡
Description	先端RI(ARIM)装置分類
Alias

Semantic Relatives

Parents

Q1884: Characterization Instrument

Siblings:

• Q1886: Magnetic Resonance
• Q1890: Sample Prepration
• Q1891: Optical Microscope
• Q1892: Scanning Probe Microscope
• Q1893: Chromatograph
• Q1894: Spectroscopy
• Q1896: Synchrotron Radiation
• Q1897: Mass Spectrometer
• Q1898: Scattering & Diffraction
• Q1899: Magnetic Characteristic
• Q1900: Biological
• Q1901: Analysis
• Q1902: Electron Chemical
• Q1903: Mechanical Properties
• Q2108: Nuclear Magnetic Resonance

Children

• Q1930: Electron Probe Micro Analyzer
• Q1934: Transmission Electron Microscope
• Q1935: Scanning Transmission Electron Microscope
• Q1936: Scannning Electron Microscope
• Q1937: Ultra-high Voltage Electron Microscope
• Q1938: Cryo-Electron Microscope
• Q1939: 3D Electron Microscope
• Q1940: Correlative Microscopy
• Q1941: Photoemission Electron Microscope
• Q1942: Low-energy Electron Microscope