言語	ラベル	説明	別名
日本語	その他分析装置	先端RI(ARIM)装置分類
英語	Analysis	ARIM instrument classification

言語	日本語
ラベル	その他分析装置
説明	先端RI(ARIM)装置分類
別名

言語	英語
ラベル	Analysis
説明	ARIM instrument classification
別名

関連語彙

上位語

Q1884: 計測装置

同階層:

• Q1886: 磁気共鳴
• Q1889: 電子顕微鏡
• Q1890: 試料作成・加工
• Q1891: 光学顕微鏡
• Q1892: 走査型プローブ顕微鏡
• Q1893: クロマトグラフ
• Q1894: 分光
• Q1896: 放射光
• Q1897: 質量分析
• Q1898: 回折・散乱
• Q1899: 磁気特性
• Q1900: バイオ装置
• Q1902: 電気化学
• Q1903: 機械特性
• Q2108: 核磁気共鳴装置

下位語

• Q2006: 示差走査熱量分析
• Q2007: 熱重量分析
• Q2008: 示差熱・熱重量同時測定
• Q2009: 熱機械分析
• Q2010: 粘弾性測定
• Q2011: 段差計
• Q2012: 膜厚測定
• Q2013: エリプソメーター
• Q2014: 接触角計
• Q2015: ゼータ電位
• Q2016: 粒度分布測定（動的光散乱）
• Q2017: 粒度分布測定（静的光散乱）
• Q2018: 蒸気圧式絶対分子量測定
• Q2019: 電子物性評価
• Q2020: 電子材料・デバイス評価
• Q2021: メスバウアー分光