言語	ラベル	説明	別名
日本語	その他分析装置	DICE装置分類
英語	Analysis	DICE instrument classification

言語	日本語
ラベル	その他分析装置
説明	DICE装置分類
別名

言語	英語
ラベル	Analysis
説明	DICE instrument classification
別名

関連語彙

上位語

Q1885: 計測装置

同階層:

• Q1888: 磁気共鳴
• Q1923: 電子顕微鏡
• Q1924: 試料作成・加工
• Q1925: 光学顕微鏡
• Q1926: 走査型プローブ顕微鏡
• Q1927: クロマトグラフ
• Q1928: 分光
• Q2072: 放射光
• Q2073: 質量分析
• Q2074: 回折・散乱
• Q2075: 磁気特性
• Q2076: バイオ装置
• Q2078: 電気化学
• Q2079: 機械特性

下位語

• Q2194: 示差走査熱量分析
• Q2195: 熱重量分析
• Q2196: 示差熱・熱重量同時測定
• Q2197: 熱機械分析
• Q2198: 粘弾性測定
• Q2199: 段差計
• Q2200: 膜厚測定
• Q2201: エリプソメーター
• Q2202: 接触角計
• Q2203: ゼータ電位
• Q2204: 粒度分布測定（動的光散乱）
• Q2205: 粒度分布測定（静的光散乱）
• Q2206: 蒸気圧式絶対分子量測定
• Q2207: 電子物性評価
• Q2208: 電子材料・デバイス評価
• Q2209: メスバウアー分光