言語	ラベル	説明	別名
日本語	膜厚測定	先端RI(ARIM)装置分類
英語	Film Thickness Measurement	ARIM instrument classification

言語	日本語
ラベル	膜厚測定
説明	先端RI(ARIM)装置分類
別名

言語	英語
ラベル	Film Thickness Measurement
説明	ARIM instrument classification
別名

関連語彙

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Q1901: その他分析装置

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• Q2006: 示差走査熱量分析
• Q2007: 熱重量分析
• Q2008: 示差熱・熱重量同時測定
• Q2009: 熱機械分析
• Q2010: 粘弾性測定
• Q2011: 段差計
• Q2013: エリプソメーター
• Q2014: 接触角計
• Q2015: ゼータ電位
• Q2016: 粒度分布測定（動的光散乱）
• Q2017: 粒度分布測定（静的光散乱）
• Q2018: 蒸気圧式絶対分子量測定
• Q2019: 電子物性評価
• Q2020: 電子材料・デバイス評価
• Q2021: メスバウアー分光