言語	ラベル	説明	別名
日本語	走査型プローブ顕微鏡	先端RI(ARIM)装置分類
英語	Scanning Probe Microscope	ARIM instrument classification

言語	日本語
ラベル	走査型プローブ顕微鏡
説明	先端RI(ARIM)装置分類
別名

言語	英語
ラベル	Scanning Probe Microscope
説明	ARIM instrument classification
別名

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Q1884: 計測装置

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