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日本語	先端RI(ARIM)装置辞書
英語	ARIM Instrument Dictionary

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関連語彙

下位語

• Q1884: 計測装置

  • Q1886: 磁気共鳴

    • Q1929: 電子スピン共鳴
    • Q1933: 磁気共鳴画像診断
  • Q1889: 電子顕微鏡

    • Q1930: 電子線プローブマイクロアナライザー
    • Q1934: 透過型電子顕微鏡
    • Q1935: 走査型透過電子顕微鏡
    • Q1936: 走査型電子顕微鏡
    • Q1937: 超高圧電子顕微鏡
    • Q1938: クライオ電子顕微鏡
    • Q1939: 三次元電子顕微鏡
    • Q1940: 光・電子相関顕微鏡
    • Q1941: 光電子顕微鏡
    • Q1942: 低エネルギー電子顕微鏡
  • Q1890: 試料作成・加工

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    • Q1943: イオンミリング
    • Q1944: 集束イオンビーム
  • Q1891: 光学顕微鏡

    • Q1932: 位相差顕微鏡
    • Q1945: 共焦点レーザー走査型顕微鏡
    • Q1946: 蛍光顕微鏡
    • Q1947: 実体顕微鏡
    • Q1948: 超解像顕微鏡
  • Q1892: 走査型プローブ顕微鏡

    • Q1949: 走査型トンネル顕微鏡
    • Q1950: 原子間力顕微鏡
  • Q1893: クロマトグラフ

    • Q1951: ガスクロマトグラフ
    • Q1952: イオンクロマトグラフ
    • Q1953: 液体クロマトグラフ
    • Q1954: ゲル浸透クロマトグラフ
  • Q1894: 分光

    • Q1955: 赤外分光
    • Q1956: 紫外・可視分光
    • Q1957: 紫外可視近赤外分光
    • Q1958: 近赤外分光光度計
    • Q1959: 蛍光分光
    • Q1960: 誘導結合プラズマ発光分光分析計
    • Q1961: X線蛍光分光分析
    • Q1962: ラマン分光
    • Q1963: 円二色性分光
    • Q1964: X線吸収分光
    • Q1965: X線発光分光
    • Q1966: X線光電子分光
    • Q1967: オージェ電子分光
    • Q1968: 光電子分光
  • Q1896: 放射光

    • Q1969: 走査型X線顕微鏡
    • Q1970: 硬X線光電子分光法
    • Q1971: 装置・広域X線吸収微細構造
    • Q1972: X線吸収端近傍構造
    • Q1973: X線回折装置(放射光)
  • Q1897: 質量分析

    • Q1974: 二重収束質量分析
    • Q1975: 四重極質量分析
    • Q1976: 飛行時間質量分析
    • Q1977: イオントラップ質量分析
    • Q1978: フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析
    • Q1979: 飛行時間二次イオン質量分析
    • Q1980: 誘導結合プラズマ質量分析
    • Q1981: マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析
    • Q1982: 二次イオン質量分析
    • Q1983: 直接イオン化質量分析
    • Q1984: ガスクロマトグラフ質量分析
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  • Q1898: 回折・散乱

    • Q1986: 単結晶X線回折
    • Q1987: 中性子回折
    • Q1988: X線トポグラフィー
    • Q1989: X線マイクロトモグラフィー
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  • Q1899: 磁気特性

    • Q1992: 磁気特性測定システム
    • Q1993: 物理特性測定装置
    • Q1994: 振動試料型磁束計
  • Q1900: バイオ装置

    • Q1995: リアルタイムPCR装置
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    • Q1997: 表面プラズモン共鳴装置
    • Q1998: プレートリーダー
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    • Q2000: フローサイトメトリー
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    • Q2002: 電気泳動装置
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    • Q2004: レーザーマイクロダイセクション
    • Q2005: DNAシーケンサー
  • Q1901: その他分析装置

    • Q2006: 示差走査熱量分析
    • Q2007: 熱重量分析
    • Q2008: 示差熱・熱重量同時測定
    • Q2009: 熱機械分析
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    • Q2016: 粒度分布測定（動的光散乱）
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    • Q2019: 電子物性評価
    • Q2020: 電子材料・デバイス評価
    • Q2021: メスバウアー分光
  • Q1902: 電気化学

    • Q2022: 電流滴定
    • Q2023: 電位差測定
    • Q2024: 電流測定
  • Q1903: 機械特性

    • Q2025: 圧縮試験
    • Q2026: クリープ試験
    • Q2027: 動的機械分析
    • Q2028: 疲労試験
    • Q2029: 硬度計
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  • Q2108: 核磁気共鳴装置
• Q1913: 計算

  • Q1904: 理論計算・シミュレーション

    • Q2033: CAD
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    • Q2058: シミュレーション
    • Q2109: 理論計算
• Q1914: 合成・プロセス装置

  • Q1905: 蒸着・成膜装置

    • Q2035: 原子層堆積(ALD)装置
    • Q2036: コーター
    • Q2037: 化学蒸着(CVD)装置
    • Q2038: 電着装置
    • Q2039: 物理蒸着(PVD)装置
    • Q2040: インクジェット堆積装置
    • Q2041: ラングミュア - ブロジェット膜堆積装置
    • Q2042: プラズマ溶射装置
    • Q2043: スッパタリング（スパッタ）
  • Q1916: 成形装置

    • Q2044: 冷間圧延ローラー
    • Q2045: 引抜金型
    • Q2046: 押出金型
    • Q2047: 鍛造機械
    • Q2048: ホットプレス
    • Q2049: 熱間圧延ローラー
    • Q2050: 粉砕機
    • Q2051: 3Dプリンタ
    • Q2110: 鋳型
  • Q1917: リソグラフィ

    • Q2052: 光露光（マスクアライナ）
    • Q2053: 光露光（ステッパ）
    • Q2054: 光露光（マスクレス、直接描画）
    • Q2055: 電子線描画（EB）
    • Q2056: ナノインプリント
  • Q1918: 膜加工・エッチング

    • Q2057: ドライエッチング（RIE）
    • Q2059: ドライエッチング（ECR）
    • Q2060: ドライエッチング（その他）
    • Q2061: ウェット／ガスエッチング
    • Q2062: レーザー加工
  • Q1919: その他加工装置

    • Q2063: 酸化
    • Q2064: 拡散
    • Q2065: イオン注入
    • Q2066: 接合
    • Q2067: レジスト塗布
    • Q2068: 現像装置
  • Q1920: 合成設備

    • Q2069: 分注機
    • Q2070: 遠心機
    • Q2071: 撹拌機