言語	ラベル	説明	別名
日本語	回折・散乱	先端RI(ARIM)装置分類
英語	Scattering & Diffraction	ARIM instrument classification

言語	日本語
ラベル	回折・散乱
説明	先端RI(ARIM)装置分類
別名

言語	英語
ラベル	Scattering & Diffraction
説明	ARIM instrument classification
別名

関連語彙

上位語

Q1884: 計測装置

同階層:

• Q1889: 電子顕微鏡
• Q1886: 磁気共鳴
• Q1897: 質量分析
• Q1899: 磁気特性
• Q1890: 試料作成・加工
• Q1891: 光学顕微鏡
• Q1902: 電気化学
• Q1892: 走査型プローブ顕微鏡
• Q1893: クロマトグラフ
• Q1894: 分光
• Q1896: 放射光
• Q1900: バイオ装置
• Q1901: その他分析装置
• Q1903: 機械特性
• Q2108: 核磁気共鳴装置

下位語

• Q1986: 単結晶X線回折
• Q1987: 中性子回折
• Q1988: X線トポグラフィー
• Q1989: X線マイクロトモグラフィー
• Q1990: ラザフォード後方散乱
• Q1991: 電子回折
• Q2114: X線回折装置