言語	ラベル	説明	別名
日本語	顕微法
英語	microscopy

言語	日本語
ラベル	顕微法
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言語	英語
ラベル	microscopy
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関連語彙

上位語

Q22: 計測手法

同階層:

• Q30: 分光法
• Q48: 散乱回折
• Q315: 荷電分布
• Q317: クロマトグラフィー
• Q322: 膨張計
• Q323: 電気化学
• Q353: 浸透圧法
• Q357: プロフィロメトリー
• Q369: 分光分析法
• Q389: 熱化学
• Q395: トモグラフィー
• Q398: 超音波
• Q399: 粘度測定
• Q566: 光学測定
• Q3078: 機械特性測定
• Q3079: 磁気共鳴法
• Q3080: 試料加工法
• Q3081: 磁気特性測定
• Q3082: バイオ分析法
• Q3083: 物理化学特性測定
• Q3084: 電気特性測定
• Q3085: 半導体デバイス特性測定

下位語

• Q38: 走査型オージェ電子顕微鏡法
• Q45: 走査透過電子顕微鏡
• Q51: 透過電子顕微法
• Q334: 分析電子顕微鏡法
• Q335: 原子間力顕微鏡
• Q336: 共焦点顕微鏡法
• Q337: 電子プローブ微量分析
• Q338: 環境走査型電子顕微鏡
• Q339: 電界放出電子プローブ
• Q340: 光学顕微鏡法
• Q341: フォトルミネセンス顕微鏡
• Q342: 電子顕微鏡
• Q343: スキャニングケルビンプローブ
• Q344: 走査型プローブ顕微鏡法
• Q345: 走査トンネル顕微鏡
• Q346: X線光学干渉法

外部リンク

• Q1074953