Q3085: 半導体デバイス特性測定
語彙ID
http://matvoc.nims.go.jp/entity/Q3085
| 言語 | ラベル | 説明 | 別名 |
|---|---|---|---|
| 日本語 | 半導体デバイス特性測定 | 半導体デバイス特性の測定技術および手法 | |
| 英語 | semiconductor device properties measurement | methods and technology of semicondutor device property analysis |
| 言語 | 日本語 |
|---|---|
| ラベル | 半導体デバイス特性測定 |
| 説明 | 半導体デバイス特性の測定技術および手法 |
| 別名 |
| 言語 | 英語 |
|---|---|
| ラベル | semiconductor device properties measurement |
| 説明 | methods and technology of semicondutor device property analysis |
| 別名 |