Q45: 走査透過電子顕微鏡
語彙ID
http://matvoc.nims.go.jp/entity/Q45
言語 | ラベル | 説明 | 別名 |
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日本語 | 走査透過電子顕微鏡 | 走査透過電子顕微鏡 | |
英語 | scanning transmission electron microscopy | STEM |
言語 | 日本語 |
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ラベル | 走査透過電子顕微鏡 |
説明 | 走査透過電子顕微鏡 |
別名 |
言語 | 英語 |
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ラベル | scanning transmission electron microscopy |
説明 | |
別名 | STEM |