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検索結果: 1 件

Q45: 走査透過電子顕微鏡

語彙ID

http://matvoc.nims.go.jp/entity/Q45

言語 ラベル 説明 別名
日本語 走査透過電子顕微鏡 走査透過電子顕微鏡
英語 scanning transmission electron microscopy STEM
言語 日本語
ラベル 走査透過電子顕微鏡
説明 走査透過電子顕微鏡
別名
言語 英語
ラベル scanning transmission electron microscopy
説明
別名 STEM