言語	ラベル	説明	別名
日本語	走査透過電子顕微鏡	走査透過電子顕微鏡 (2026-02-24 10:19:29)
英語	scanning transmission electron microscopy		STEM

言語	日本語
ラベル	走査透過電子顕微鏡
説明	走査透過電子顕微鏡 (2026-02-24 10:19:29)
別名

言語	英語
ラベル	scanning transmission electron microscopy
説明
別名	STEM

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Q37: 顕微法

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• Q336: 共焦点顕微鏡法
• Q337: 電子プローブ微量分析
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• Q340: 光学顕微鏡法
• Q341: フォトルミネセンス顕微鏡
• Q342: 電子顕微鏡
• Q343: スキャニングケルビンプローブ
• Q344: 走査型プローブ顕微鏡法
• Q345: 走査トンネル顕微鏡
• Q346: X線光学干渉法
• Q550: 該当せず
• Q551: その他