Q45: 走査透過電子顕微鏡
語彙ID
http://matvoc.nims.go.jp/entity/Q45
| 言語 | ラベル | 説明 | 別名 |
|---|---|---|---|
| 日本語 | 走査透過電子顕微鏡 | 走査透過電子顕微鏡 | |
| 英語 | scanning transmission electron microscopy | STEM |
| 言語 | 日本語 |
|---|---|
| ラベル | 走査透過電子顕微鏡 |
| 説明 | 走査透過電子顕微鏡 |
| 別名 |
| 言語 | 英語 |
|---|---|
| ラベル | scanning transmission electron microscopy |
| 説明 | |
| 別名 | STEM |
http://matvoc.nims.go.jp/entity/Q45
| 言語 | ラベル | 説明 | 別名 |
|---|---|---|---|
| 日本語 | 走査透過電子顕微鏡 | 走査透過電子顕微鏡 | |
| 英語 | scanning transmission electron microscopy | STEM |
| 言語 | 日本語 |
|---|---|
| ラベル | 走査透過電子顕微鏡 |
| 説明 | 走査透過電子顕微鏡 |
| 別名 |
| 言語 | 英語 |
|---|---|
| ラベル | scanning transmission electron microscopy |
| 説明 | |
| 別名 | STEM |