言語	ラベル	説明	別名
日本語	原子間力顕微鏡
英語	atomic force microscopy

言語	日本語
ラベル	原子間力顕微鏡
説明
別名

言語	英語
ラベル	atomic force microscopy
説明
別名

関連語彙

上位語

Q37: 顕微法

同階層:

• Q38: 走査型オージェ電子顕微鏡法
• Q45: 走査透過電子顕微鏡
• Q51: 透過電子顕微法
• Q334: 分析電子顕微鏡法
• Q336: 共焦点顕微鏡法
• Q337: 電子プローブ微量分析
• Q338: 環境走査型電子顕微鏡
• Q339: 電界放出電子プローブ
• Q340: 光学顕微鏡法
• Q341: フォトルミネセンス顕微鏡
• Q342: 電子顕微鏡
• Q343: スキャニングケルビンプローブ
• Q344: 走査型プローブ顕微鏡法
• Q345: 走査トンネル顕微鏡
• Q346: X線光学干渉法
• Q550: 該当せず
• Q551: その他