言語	ラベル	説明	別名
日本語	走査型プローブ顕微鏡	DICE装置分類
英語	Scanning Probe Microscope	DICE instrument classification

言語	日本語
ラベル	走査型プローブ顕微鏡
説明	DICE装置分類
別名

言語	英語
ラベル	Scanning Probe Microscope
説明	DICE instrument classification
別名

関連語彙

上位語

Q1885: 計測装置

同階層:

• Q1888: 磁気共鳴
• Q1923: 電子顕微鏡
• Q1924: 試料作成・加工
• Q1925: 光学顕微鏡
• Q1927: クロマトグラフ
• Q1928: 分光
• Q2073: 質量分析
• Q2075: 磁気特性
• Q2078: 電気化学
• Q2072: 放射光
• Q2074: 回折・散乱
• Q2076: バイオ装置
• Q2077: その他分析装置
• Q2079: 機械特性

下位語

• Q2138: 原子間力顕微鏡
• Q2137: 走査型トンネル顕微鏡