言語	ラベル	説明	別名
日本語	回折・散乱	DICE装置分類
英語	Scattering & Diffraction	DICE instrument classification

言語	日本語
ラベル	回折・散乱
説明	DICE装置分類
別名

言語	英語
ラベル	Scattering & Diffraction
説明	DICE instrument classification
別名

関連語彙

上位語

Q1885: 計測装置

同階層:

• Q1888: 磁気共鳴
• Q1923: 電子顕微鏡
• Q1924: 試料作成・加工
• Q1925: 光学顕微鏡
• Q1926: 走査型プローブ顕微鏡
• Q1927: クロマトグラフ
• Q1928: 分光
• Q2073: 質量分析
• Q2075: 磁気特性
• Q2078: 電気化学
• Q2072: 放射光
• Q2076: バイオ装置
• Q2077: その他分析装置
• Q2079: 機械特性

下位語

• Q2174: 単結晶X線回折
• Q2175: 中性子回折
• Q2176: X線トポグラフィー
• Q2177: X線マイクロトモグラフィー
• Q2178: ラザフォード後方散乱
• Q2179: 電子回折
• Q2263: X線回折装置