Q1936: 走査型電子顕微鏡
語彙ID
http://matvoc.nims.go.jp/entity/Q1936
類似項目
| 言語 | ラベル | 説明 | 別名 |
|---|---|---|---|
| 日本語 | 走査型電子顕微鏡 | 先端RI(ARIM)装置分類 | SEM |
| 英語 | Scannning Electron Microscope | ARIM instrument classification | SEM |
| 言語 | 日本語 |
|---|---|
| ラベル | 走査型電子顕微鏡 |
| 説明 | 先端RI(ARIM)装置分類 |
| 別名 | SEM |
| 言語 | 英語 |
|---|---|
| ラベル | Scannning Electron Microscope |
| 説明 | ARIM instrument classification |
| 別名 | SEM |