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検索結果: 1 件

Q1935: 走査型透過電子顕微鏡

語彙ID

http://matvoc.nims.go.jp/entity/Q1935

言語 ラベル 説明 別名
日本語 走査型透過電子顕微鏡 先端RI(ARIM)装置分類 STEM
英語 Scanning Transmission Electron Microscope ARIM instrument classification STEM
言語 日本語
ラベル 走査型透過電子顕微鏡
説明 先端RI(ARIM)装置分類
別名 STEM
言語 英語
ラベル Scanning Transmission Electron Microscope
説明 ARIM instrument classification
別名 STEM