Q2167: 飛行時間二次イオン質量分析
語彙ID
http://matvoc.nims.go.jp/entity/Q2167
類似項目
| 言語 | ラベル | 説明 | 別名 |
|---|---|---|---|
| 日本語 | 飛行時間二次イオン質量分析 | DICE装置分類 | TOF-SIMS |
| 英語 | Time-Of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry | DICE instrument classification | TOF-SIMS |
| 言語 | 日本語 |
|---|---|
| ラベル | 飛行時間二次イオン質量分析 |
| 説明 | DICE装置分類 |
| 別名 | TOF-SIMS |
| 言語 | 英語 |
|---|---|
| ラベル | Time-Of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry |
| 説明 | DICE instrument classification |
| 別名 | TOF-SIMS |