Q2170: 二次イオン質量分析
語彙ID
http://matvoc.nims.go.jp/entity/Q2170
類似項目
| 言語 | ラベル | 説明 | 別名 |
|---|---|---|---|
| 日本語 | 二次イオン質量分析 | DICE装置分類 | SIMS |
| 英語 | Secondary Ion Mass Spectrometer | DICE instrument classification | SIMS |
| 言語 | 日本語 |
|---|---|
| ラベル | 二次イオン質量分析 |
| 説明 | DICE装置分類 |
| 別名 | SIMS |
| 言語 | 英語 |
|---|---|
| ラベル | Secondary Ion Mass Spectrometer |
| 説明 | DICE instrument classification |
| 別名 | SIMS |