言語	ラベル	説明	別名
日本語	集束イオンビーム	先端RI(ARIM)装置分類	FIB
英語	Focused Ion Beam	ARIM instrument classification	FIB

言語	日本語
ラベル	集束イオンビーム
説明	先端RI(ARIM)装置分類
別名	FIB

言語	英語
ラベル	Focused Ion Beam
説明	ARIM instrument classification
別名	FIB

関連語彙

上位語

Q1890: 試料作成・加工

同階層:

• Q1931: ウルトラミクロトーム
• Q1943: イオンミリング